Research Article
Grain Boundary Scattering in Micro- and Nanocrystalline Thin Semiconducting Films
First published: 16 November 2001
Citations: 5
Abstract
enWe study grain boundary scattering in a thin (two-dimensional) semiconducting film adjacent to dielectric materials. As examples we discuss an inversion layer at a Si surface and a semiconducting Si film embedded in non-conducting Si. In particular we find that the scattering is reduced by image charges by about a factor of 2.
Abstract
deWir untersuchen Korngrenzenstreuung in einem dünnen (zwei-dimensionalen) Film im Kontakt mit dielektrischen Materialien. Als Beispiele werden eine Inversionsschicht an einer Si-Oberfläche und ein halbleitender Si-Film in nichtleitendem Si diskutiert. Es zeigt sich, daß die Korngrenzenstreuung durch Bildladungen etwa um einen Faktor 2 reduziert wird.
