Volume 179, Issue 2 pp. 299-306
Original Paper
Full Access

A Novel Mechanism for the Kossel Effect Due to Coherent X-Ray Scattering in Periodic Amorphous Multilayers

Xiaoming Jianc

Xiaoming Jianc

Sektion Physik der Universitat München

On leave from Synchrotron Radiation Laboratory, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, P.O. Box 918, Beijing, People's Republic of China, with a Scholarship of the Alexander von Humboldt Foundation, Federal Republic of Germany.

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T. H. Metzger

T. H. Metzger

Sektion Physik der Universitat München

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J. Peisl

J. Peisl

Sektion Physik der Universitat München

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First published: 1 October 1993
Citations: 9

Geschwister-Scholl-Platz 1, D-80539 München, Federal Republic of Germany.

Abstract

en

A new mechanism for the the excitation of the Kossel effect is observed in periodic amorphous multilayers, where the X-rays, scattered coherntly from atoms in the amorphous state, act as the sources within the one-dimensional periodic multilayer. The Kossel effect, which is well described by the distorted-wave Born approximation, is manifested as intensity modulations whenever the exit angle of the scattered beam equals any Bragg angle of the multilayer diffraction. While it is initially surprising for an amorphous sample, this Kossel effect must be treated by dynamical theory and will only occur for sharp interfaces between W and C sublayers.

Abstract

de

Ein neuer streumechanismus für die Anregung des Kossel-Effekts wurde in periodischen amorphen vielfachschichten beobachtet. Dabei stellen die an den Atomen im amorphen Zustand kohärent gestreuten Röntgenstrahlen die divergente Strahlungsquelle innerhalb der periodischen eindimensionalen Vielfachschicht dar. Der Kossel-Effekt, der sich gut mit der “distorted-wabe Born approximation” beschreiben läßt, manifestiert sich in Intensitätsmodulationen, wenn immer der gestreute Röntgenstrahl einen Winkel mit der Probenoberfläche einschließt, der einem Bragg Winkel der Vielfachschicht entspricht. Das Auftreten des Kosseleffekts in einer amorphen Probe ist an sich überraschend. Er wird jedoch mit der dynasmischen Streutheorie beschrieben, deren Anwendung auf die sehr scharfen Grenzflächen zwischen W und C Schichten zurückzuführen ist.

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