Hot-Exciton Orientation in Indirect-Gap GaAs1−xPx Alloys
Campus Universitaire, Belvédère, Tunis, Tunisia.
Abstract
enResonant Raman scattering in indirect-gap GaAs1-xPx alloys is studied. The multiphonon scattering intensity as a function of the incident energy and polarization correlation measurements of 2LO-phonon scattering are presented. The intensity dependence and the depolarization associated to the participation of large momentum resonant intermediate states are consistent with the hot exciton cascade model.
Abstract
deDie resonante Ramanstreuung in GaAs1-xPx-Legierungen mit indirekter Bandlücke wird untersucht. Die Multiphonon-Streuintensität als Funktion der einfallenden Energie sowie Polarisationskorrelationsmessungen der 2LO-Phononstreuung werden angegeben. Die Intensitätsab- hängigkeit und die Depolarisation, die mit der Teilnahme von resonanten Zwischenzuständen mit großem Impuls verbunden ist, sind mit dem Kaskadenmodell heißer Exzitonen konsistent.