Direct Backward Calculation from X-Ray Double Crystal Topographs
Max-Wien-Platz 1, 0-6900 Jena, FRG.
Abstract
enA quantitative analysis of X-ray double crystal topographs requires in general the fitting of measured distributions by calculated ones of the optical density. However, in particular cases results can be obtained more easily directly from measured density distributions by “backward” calculations. A systematic survey is given on the basic prerequisites and main problems for calculating distributions of relative changes of net plane distances and tilts of net planes, intrinsic strains and changes of the concentration of point defects on that way.
Abstract
deDie quantitative Auswertung von Röntgen-Zweikristalltopogrammen erfordert im allgemeinen Fall den Angleich der gemessenen durch berechnete Schwürzungsverteilungen. In Sonderfüllen ist es jedoch möglich, Ergebnisse mit geringerem Aufwand direkt durch „Rückrechnung”︁ aus der gemessenen Schwürzungsverteilung zu erhalten. Es wird ein systematischer überblick über die prinzipiellen Voraussetzungen sowie die wichtigsten Probleme der Berechnung von Verteilungen relativer Netz-ebenenabstandsünderungen und Netzebenenverkippungen, quasiplastischer Deformationen sowie Punktdefektkonzentrationsünderungen auf diesem Wege gegeben.
