Arkadius Ganczarczyk

Experimental Physics and CeNIDE, Universität Duisburg-Essen, Duisburg, Germany

Martin Geller

Experimental Physics and CeNIDE, Universität Duisburg-Essen, Duisburg, Germany

Axel Lorke

Experimental Physics and CeNIDE, Universität Duisburg-Essen, Duisburg, Germany

Dirk Reuter

Chair of Solid State Physics, Ruhr-Universität Bochum, Bochum, Germany

Andreas D. Wieck

Chair of Solid State Physics, Ruhr-Universität Bochum, Bochum, Germany

M. Szelong

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

U. Wieser

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

M. Knop

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

U. Kunze

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

D. Reuter

Angewandte Festkörperphysik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

A. D. Wieck

Angewandte Festkörperphysik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

J. F. von Pock

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

D. Salloch

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

U. Wieser

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

U. Kunze

Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum, Germany

T. Hackbarth

DaimlerChrysler Forschungszentrum Ulm, D-89081 Ulm, Germany

Robert Frielinghaus

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

K. Sladek

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

K. Flöhr

II. Physikalisches Institut, RWTH Aachen University, 52056 Aachen, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

L. Houben

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

Ernst Ruska-Center for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

St. Trellenkamp

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

T. E. Weirich

Central Facility for Electron Microscopy GFE, RWTH Aachen University, 52074 Aachen, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

M. Morgenstern

II. Physikalisches Institut, RWTH Aachen University, 52056 Aachen, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

H. Hardtdegen

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

Th. Schäpers

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

II. Physikalisches Institut, RWTH Aachen University, 52056 Aachen, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

C. M. Schneider

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

C. Meyer

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany

JARA – Fundamentals of Future Information Technologies, Germany

Maciej Misiorny

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich & JARA Jülich Aachen Research Alliance, 52425 Jülich, Germany

Michael Hell

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich & JARA Jülich Aachen Research Alliance, 52425 Jülich, Germany

Maarten Wegewijs

Peter Grünberg Institut, Forschungszentrum Jülich & JARA Jülich Aachen Research Alliance, 52425 Jülich, Germany

Institute for Theory of Statistical Physics, RWTH Aachen, 52056 Aachen, Germany

Angeliki Balliou

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

NTUA, Department of Chemical Engineering, Zographou Campus, Athens 15773, Greece

Antonios Douvas

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

Dimitrios Velessiotis

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

Vassilis Ioannou-Sougleridis

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

Pascal Normand

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

Panagiotis Argitis

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

Nikos Glezos

Institute of Microelectronics, NCSR Demokritos, Aghia Paraskevi, Athens 15310, Greece

Dr. Jörg Heber

Nature Materials, The Macmillan Building, 4, Crinan Street, London N1 9XW, United Kingdom

Prof. Darrell Schlom

Cornell University, Materials Science&Engineering, 230, Bard Hall, Ithaca, NY 14853-2201, USA

Prof. Dr. Yoshinori Tokura

University of Tokio, Dept. of Applied Physics, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, Japan

Prof. Dr.-Ing. Rainer Waser

RWTH Aachen, Institut für Elektrotechnik II, Sommerfeldstr. 24, 52074 Aachen, Germany

Prof. Dr. Matthias Wuttig

RWTH Aachen, I., Physikalisches Institut, Sommerfeldstr. 14, 52056 Aachen, Germany